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투과 전자 현미경

농담학회 전서
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일립 HT7700 투과전자현미경

투과 전자 현미경(transmission electron microscope; TEM)은 전자 빔을 시료에 통과시키고, 투과된 전자 빔을 감광판이나 CCD에 쪼여 상을 얻는 전자현미경의 일종이다. 전자가 투과할 수 있을 정도로 얇은 시료를 진공 하에 두고 전자 빔을 쪼인다.

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