"투과 전자 현미경"의 두 판 사이의 차이
농담학회 전서
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2017년 3월 6일 (월) 23:24 판
투과 전자 현미경(transmission electron microscope; TEM)은 전자 빔을 시료에 통과시키고, 투과된 전자 빔을 감광판이나 CCD에 쪼여 상을 얻는 전자현미경의 일종이다. 전자가 투과할 수 있을 정도로 얇은 시료를 진공 하에 두고 전자 빔을 쪼인다.
바깥 고리
- The Transmission Electron Microscope, Nobelprize.org